Pokrycie rastrowe i przyrost punktów

Pomiar densytometryczny pola pełnego (apli) oraz pola rastrowego pozwala na określenie procentowego pokrycia. Przydatny staje się tu wzór Murray’a-Davies’a.

S=((1-10^(-Dr) )/(1-10^(-Dv) )*100%

gdzie:
Dr  – gęstość optyczna pola rastrowego
Dv – gęstość optyczna pola pełnego (apli)

Wynik z tego wzoru określa się mianem pokrycia pozornego.

W przypadku konieczności uzyskania rzeczywistego pokrycia stosuje się modyfikację powyższego wzoru znaną jako wzór Youle’a-Nielsen’a

S=((1-10^(-Dr) )/(1-10^(-Dv) )*n*100%

gdzie:
Dr  – gęstość optyczna pola rastrowego
Dv – gęstość optyczna pola pełnego (apli)
n – współczynnik Youle’a-Nielsen’a

Współczynnik ten zwykle przyjmuje wartość od 0 do 4. Gdy wynosi 1 oba wzory dają ten sam wynik. Najczęściej rekomendowaną wartością jest 1,7 [Pearson, Milton, ”n” Value for General Conditions, TAGA Proceedings, 1980, pp. 415-425]

Przyrost punktów rastrowych definiuje się jako różnicę procentowego pokrycia na mierzonym polu i wartości zadanej. Np. typowy przyrost dla papieru powlekanego błyszczącego (typ 1) wg zaleceń normy ISO 12647-2 wynosi 15%, czyli pole o zadanym pokryciu 50% powinno na wydruku uzyskać zmierzoną wartość pokrycia pozornego 65%.

Dodaj komentarz

Twój adres email nie zostanie opublikowany. Pola, których wypełnienie jest wymagane, są oznaczone symbolem *

Kod antyspamowy * Ważność kodu antyspamowego wygasła. Podaj kod ponownie.

This site uses Akismet to reduce spam. Learn how your comment data is processed.